SFM/SNOM结合的扫描探测显微镜
采用光纤探针的扫描近场光学显微镜(SNOM)存在某些弱点,如探针特别脆,不易贴近样品表面扫描,探针的转输效率低等。近年来发展了将SFM/SNOM结合起来的扫描探测显微镜。利用微加工工艺技术,将小孔集成在悬臂探针中,使探针既能批量制备,又具有很好的重复性。探针悬臂在垂直于样品表面方向上的弹性常数较小,针尖不易损坏。在接触模式中利用这种SFM/SNOM组合探针可将样品的形貌像、摩擦力和光学透射像等信息
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