TDI CCD成像系统的研究
采用IL-E2 TDI CCD作为传感器,与计算机构成了成像系统,并在计算机CRT上显示出图像。解决了CCD的时序电路及功率驱动电路设计问题。采用相关双采样技术滤除CCD输出信号复位噪声,提高了视频信号的信噪比。CCD的数据传送速度达到10MHz,行扫描速度达到3.5kHz。
CCD数码照相系统分辨率测试技术研究
介绍了CCD数码照相系统电视分辨率和空间分辨率的实验测试方法。以实验测试为基础定量地给出了数码照相系统可达到的分辨能力 (6 0 0TVL和 71条线 /mm)。在现有条件下 ,作者对传统冲洗金相显微照片同相同试样金相组织的电子金相照片进行了比较 ,并得到了满意的结果。
基于发光二极管探测器的太阳光度计的研究
介绍了一种采用商用发光二极管作为探测器的新型太阳光度计。阐述了系统的结构以及该仪器在监测气溶胶光学厚度领域的应用,并与传统的太阳光度计进行了对比试验。试验表明,两种仪器具有很好的一致性。
计算机控制光学表面成形法初值的确定
介绍了计算机控制光学表面成形法的原理,分析了几种非球面度的测量方法,研究了非球面度的不同计算方法对采用计算机控制光学表面成形法加工非球面的影响。从光学零件加上的角度对计算机控制光学表面成形法初值的确定进行了探讨。
光栅投影轮廓测量的系统标定技术
针对在光栅投影轮廓测量术中系统标定可操作性不强、精度不高的问题进行了全面的分析,在此基础上提出一种新的系统结构,并推导了物相关系。由于去掉了传统结构的平行和垂直两个约束条件,测量系统中摄像机和投影装置可以采取任意相对位置,操作十分灵活。对新系统提出了方便实用的标定方法,在其中引入了摄像机定标技术,应用该测量系统和标定技术进行实例检测,测量结果证明:与传统方法相比,可操作性和检测精度得到了提高。
干涉成像光谱仪技术的新发展
综述了成像光谱仪的发展过程以及空间调制干涉成像光谱仪技术的新原理、新技术、新发展。对干涉成像光谱技术的原理进行了论述 ,分析了Sagnac型和偏振型干涉成像光谱仪的分光机理和成像原理。提出了未来光谱仪技术的发展方向。
差动式光纤Bragg光栅沉降仪
研制了一种测量地表沉降变形的差动式光纤Bragg光栅沉降仪。等强度悬臂梁的底部固定于工地上的固定平台,顶端通过刃口、挂钩和连杆与沉降墩连接。在该测量中,沉降仪将沉降墩的地沉降量转换为悬臂梁的挠度。悬臂梁作用粘贴于其上下表面的光纤Bragg光栅产生应变,即传感光栅的Bragg波长产生了移位。对粘贴在悬臂梁上、下表面的传感光栅的Bragg波长进行差动运算,实现温度补偿,减小人为和气候因素的影响。在挂钩和沉降敦之间采用了螺旋结构连接,可通过调整螺旋或更换不同长度的挂钩来调节传感器的测量范围。荷载实验表明,该沉降仪的测量精度为0.004mm,低于变形测量中的科研级测量精度0.01-0.05mm。
圆感应同步器数显表检测方法研究
介绍了圆感应同步器数显表测角系统的工作原理,以及在静态和动态测角方法.提出了两种提高动态测量精度的方法.实验数据验证了方法的合理性.
光栅卡卷尺测长技术
本文在光栅卡尺技术和力矩的基础上,把卡尺量程扩大到20m作成卡卷尺。利用力矩电机作为卡卷尺的卷紧机构和利用力矩电机作为保证光栅编码器标尺光栅平直度的施力元件,在此基础上,发展了光栅卡卷则长技术。基于莫尔条纹技术的光栅 卡尺测长技术与其它现有长度测量技术相比成本较低、性能可靠,共测量精度可达0.05mm甚至更高。为克服实际应用中卡卷尺的平直度对测量精度的影响,在系统设计中使力矩电机工作在堵转状态作为
单光路分光光度计中光源影响的软件补偿方法
在单光路分光光度计中,照明光源随时间变化的不稳定性通常对颜色测量有很大的影响。在分析了光源随时间变化规律的基础上,提出了用软件自动修正单光路分光光度计的测量结果,从而排除了光源不稳定性所带来的影响。由实验数据找出的规律构造了两个修正因子:时间修正因子和波长修正因子。用它们对测量结果进行修正。实验证明这种方法有效的减弱了光源的影响。









