LTE芯片和终端测试综述

　　1 引言

　　随着TD-LTE试验网在世博会和亚运会的精彩亮相，以及2011年中国移动投入巨资进行的6+1城市试验网建设，业界对中国移动TD-LTE的前景充满期待。测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链中重要的环节，位于产业链的上游，对于产品研发和产业化起着非常关键的作用。并且由于 LTE和之前的系统在空中接口上存在很大的不同，所以对于测试就提出了新的挑战和要求。目前，对TD-LTE测试仪表的需求已经涵盖了整个产业链的各个阶段。

　　2 R&S的LTE测试解决方案

　　罗德与施瓦茨公司(R&S)作为欧洲最大的测试测量仪表供应商，具有强大的研发和生产实力。基于其在2G和3G测试领域的领先地位，R&S对于LTE从早期的研发阶段就开始跟踪研究，积累了丰富的经验。为了推动TD-LTE产业的发展，R&S公司为客户提供从LTE(包括TD-LTE和FDD LTE)仿真、设计、研发、生产、测试等一系列的测试测量解决方案，可以满足客户各个阶段的需求(见图1)。

　　图1 R&S的LTE测试解决方案

　　3 LTE芯片和终端研发

　　(1)LTE信号产生和分析

　　R&S的信号源如SMU，AMU以及SMBV系列加上选件后就可以按照规范实时地产生LTE上/下行射频或基带信号，用于元器件性能测试以及终端的接收机测试;R&S的FSx系列频谱和信号分析仪能分析LTE上/下行射频或基带信号，用于元器件性能测试以及终端的发射机测试。

　　由于被测设备可能采用特殊的数字基带信号格式，R&S提供EX-IQ-BOX来针对不同数字基带信号格式进行适配。

　　(2)LTE终端协议和IOT测试

　　LTE协议栈的测试用来验证一些信令功能，例如呼叫建立和释放、呼叫重配置、状态处理和移动性等。和2G，3G系统的互操作性(IOT)测试是对LTE的另外一个需求。为了保证终端的协议栈和应用可以处理高数据率的数据，需要测试验证终端吞吐量的要求。在LTE实现的早期，研发部门需要包含各个参数配置的多种测试场景来进行LTE协议栈的测试。此外，LTE物理层具有很多重要功能，这包括小区搜索，HARQ协议，调度安排，链路自适应，上行时间控制和功率控制等，而且这些过程有着很严格的定时要求。因此，也需要对物理层进行完全测试来保证LTE的性能。

　　R&S的CMW500协议测试仪可以用于LTE终端的协议一致性测试、性能测试和互操作测试。同时，R&S还提供用于PC机上的虚拟测试(Virtual Tester)软件，使工程师在早期就进行协议开发的工作。所以使用CMW500可以并行进行软件和硬件的协同开发、测试和优化，从而加快产品的上市时间。

　　CMW500可以提供MLAPI和LLAPI这两个协议栈测试所需的底层和高层编程接口，这样开发者在早期就可以对协议栈进行灵活测试，而且这样的测试是和后期的一致性测试完全兼容的，可以节省后期测试的时间和成本。