本文介绍了基于光聚焦探测法的表面粗糙度非接触测量系统。该系统特别适合于接触测量易引起表面损害的软材料,如橡胶、纸张、磁带;硬材料,如硬金属、陶瓷;以及软材料覆盖表面,如磁盘等