冷却型CCD相机系统对冷却的要求是较高的，不仅要求冷却温度低到-50℃左右，同时也要求稳定度达到≤±0．1℃的水平。利用TEC系列半导体制冷器件、集成测温探头AD590和采用智能PID调节原理的SRI控制器组成了CCD冷却控制系统，对其控制原理和结构进行了研究，据此而研制的CCD冷却控制系统性能达到了较高的水平，用于TK512B—CCD的冷却时，冷却温度可低到-45℃，稳定度≤±0．1℃。

具有时间分辨能力的高能强流电子束束流参数测量需要高速的分幅相机，其幅间间隔时间要求达到10ns的水平，每幅曝光时间不大于5ns。针对这种难度较大的应用要求，结合快速电子技术、图像增强技术、光学分光技术等多门学科的成果，成功研制了一台可用于高能强流电子束束流参数的时间分辨测量的高速分幅相机，图像幅间间隔时间最快到达10ns，最小的曝光时间为3ns，一次可以拍摄8幅图像，图像分辨率为1376×1035，标准幅面可以达到中80mm，完全满足了目前的测量要求。

对于光纤锥或光纤面板耦合的CCD相机所获图像中存在的响应非均性问题进行了阐述,分析了CCD相机输出信号的构成情况和图像传递间的响应关系,并给出了相应的表达式.利用平场校正方法对存在较严重非均性的图像进行了处理,处理过程分为三步首先获取系统的暗本底图像(包括了暗电流及系统偏置),所选择的积分时间与被用来校正的图像的积分时间相同;其次,获取均匀光场的图像,并将其作为平场校正的参考图像;最后扣除本底,用相对标定的方法对图像进行校正,从而获得图像各像素响应率的相对标定系数,再用它对原始图像进行平场校正即可获得很好的结果.校正后的图像更清晰,噪声更小,很多细节都能在灰度图像中直接看出,经过边界处理和伪彩显示后可清晰地看到小于0.1mm的细缝,达到了图像精密处理的效果.

对于光纤锥耦合的CCD相机中存在的响应非均性问题进行了阐述,针对这种类型的系统的平场校正方法进行了仔细的研究,分析了CCD相机输出信号的构成情况,并利用这些方法对实际存在较严重的非均匀问题的图像进行处理,获得了很好的结果,达到了图像精密处理的效果.

在高能X光辐射照相系统中,通常使用闪烁体材料的转换屏将X光转换为可见光进行探测.建立了转换屏空间分辨率的计算模型,模拟了转换屏的空间分辨率随屏的厚度、材料及X光子能量的变化关系,为系统的设计提供了参数.

X光转换屏的强度 -谱线曲线对闪光照相具有重要意义。本实验对 4号高能 X光转换屏在 X光照射下所发荧光光谱作了分析 ,文中给出了谱线图 ,以及扫描出的强度 -谱线曲线 ,并对实验结果作了分析