数字电路测试的关键在于算出测试向量。文章对数字电路的功能测试和测试生成进行研究，介绍了D算法的基本概念及在数字电路故障检测中的应用。讨论了数字电路自动测试生成系统实现的关键技术，主要包括故障的模型、仿真和压缩；可测试性度量；测试向量生成算法（ATPG）以及测试向量压缩优化，并介绍了数字系统测试生成平台的整体框架。

针对数字电路板故障诊断中测试码生成效率低以及会出现多个故障的测试向量相同的情况,提出了故障树与D算法结合生成测试码的方法.以电路板故障作为顶事件进行故障树的建立,用D算法按照故障树中各故障的优先级顺序生成故障的测试向量,这使得故障诊断的速度大大提高,并且有效地解决了因不同故障的测试码相同造成的不能准确定位故障的问题.最后,将此诊断方法应用于某电路板的故障诊断,充分地验证了诊断效果.