数字测相与其它相位测量方法相比,具有测量准确度高、原理简单、容易实现的优点,完全符合手持式激光测距仪的要求。对数字测相方法中的多个误差来源及其消除方法进行了系统的分析,重点分析了过零整形电路、填充脉冲的频率和输入信号的幅度对测量准确度的影响,其研究成果对提高手持式激光测距仪的测量准确度具有指导意义。

介绍了用于磨床加工的光外差表面粗糙度在线干涉测量仪整机的信号处理系统着重讨论了其中的两项关键 技术即利用负反馈构成的宽动态范围测量信号的自动电压控制以及依据计大数和测小数相结合的高精度动态相位测量系统的测量精度达2.6°(相当于 3.2nm)允许测量中最大多普勒频移±10kHz(对应高度的变化率±8.75×10-3m/s)完全满足磨床加工中表面粗糙度在线测量的要求。现 场测试证实了这一点这对于精加工、超精加工表面粗糙度的在线质量控制、提高加工精度等非常重要。

基站发射机波束成形和波束控制是提高基站覆盖范围和容量的有效方法,这些技术要求使用多个收发器,并且基带处理器必须补偿各信号路径的不良相位失调。此外,这种补偿必须持续存在。本文介绍一种在工厂测试和工作期间测量多个发射机之间的相位差,以便基带处理器补偿这些失调的方法。

以单片机89C51和可编程逻辑器件（FPGA）为控制中心，设计了一个频率特性测试仪，用于测试某一特定网络的频率响应特性。本系统的主要特点是由FPGA驱动多种串行芯片，在精简了系统电路结构的同时也不影响程序的效率。其中扫频信号由AD9851的串行方式产生，扩展了频率范围及稳定性。幅度测量由有效值采样芯片AD637和10位串行A／D转换器TLV1544配合实现，相位测量采用计数法实现。频率特性曲线由12位串行双D／A转换器TLV5638输出，并经示波器显示出来.本系统幅度测量精度达到5％，相位测量精度达到1°。

为了能够直接显示待测网络的幅频相频特性，设计了一个以89C55和FPGA构成的最小系统为控制核心的频率特性测试仪。系统基于DDS（直接数字频率合成）原理和多周期同步计数相位测量法，由信号发生器，被测双T网络，真有效值检波，相位检测，LCD显示及幅频特性曲线显示等部分构成。其中，信号发生和相位检测在FPGA内部实现。用户可通过按键输入需求，频率特性曲线实时显示于示波器上。整个系统性能稳定，界面友好，操作简单，实现了数字化频率特性分析。

提出了一种共光路外差干涉测量模拟磁头磁盘静态间隙的方法,该方法以低频差横向塞曼双频激光器作为光源,采用专门设计的双折射透镜分光和相位测量技术,实现了对光波半波长的3600细分,从而使测量分辨率达到0.1 nm.原理实验结果表明,该系统在无恒温的普通实验室条件下,1 h内稳定测量实验结果漂移小于4 nm;利用压电陶瓷(PZT)微动工作台(步进分辨率1 nm)驱动反射镜(模拟磁头)产生位移,在1μm范围内与该系统测量结果进行比对,得到线性相关系数优于0.9998.

提出采用光学移相办法测量超高频调制光相位特性的一种方法。它具有精度高、实用性强等特点。

针对液晶投影器能容易地通过图象板与微机连接，接收ＰＣ机发出的数字电信号并把接收到的信号转换成模拟的光信号投影，可以根据实际应用时控制投影光栅的周期及相移，提出了基于ＬＣＤ投影的全电子的ＰＭＰ方法。

提出了一种新的相位测量方法,该方法准确检测了从位标器陀螺仪输出的钟形光电脉冲信号峰值点的位置,并以其为时间基准点进行相位测量,同时判断被测两信号之间的时间间隔以及超前、滞后关系,同时针对在现场中的干扰因素,提出了相应的解决措施。试验证明该方法电路简单,测量速度快,精度高,可靠性好。

为了解决双纵模双频激光干涉仪原有信号处理电路两路信号易直流漂移、不正交对干涉仪系统测量精度和速度的限制及调整光路观察信号不方便等问题，利用AD8302的良好高频处理特性，设计了一种新的基于AD8302的双纵模双频激光干涉仪信号处理系统，给出了方案的总体框图和信号处理流程图，详细地分析了其工作原理以及提高相位测量精度方法。由于器件相位测量的高分辨率，该系统也可用于高分辨率双纵模双频激光轮廓仪的信号处理。