摩擦与润滑在工业金属薄板形成工艺中起着重要的作用.摩擦决定着金属薄板的变形类型和无撕裂情况下的变形程度. 适当地润滑可以避免金属间的直接接触,减少了模具和工件不必要的磨损,降低了成本.同时,润滑减少了由于粘附作用引起的工件表面的损伤,提高了产品质量,延长了模具寿命. 金属薄板成型的精确塑性分析,常依据一

为了解决光纤端面透明反射膜反射率的精确测量问题,利用镀有反射膜的待测光纤端面,构成法布里-珀罗(F-P)干涉仪,根据其透射光谱的自由谱宽和干涉峰的半宽值,计算出膜系反射率,避免了光源波动对测量结果的影响.在用反射率为92.0～98.6 %的膜系所进行的实验中,测量误差小于0.09 %.分析了误差来源.

在北京同步辐射装置上，利用3W1B柬线得到了21°-B4C／Si，21°-B4C／Mo，10°-Cr／Ti，15°-B4C/w，10°-B4C／W以及6．86°-B4C／w等多层镜在50～1500eV能段上的反射率标定曲线．分析了标定结果的不确定度，计算得到多层镜的积分衍射效率，并修正了标定结果．

利用自准直分划板返回像光强随被测件反射率变化的特性，在自准直仪的基础上增添相应光电接收器件，以已知反射率的平面镜作标准，进行比较测量，实现光线垂直入、反射时全通光口径的反射率测量，以适应相应的使用状态和不同的被测件。

在光学器件中,由于器件(如透镜、棱镜)表面的反射作用而使光能损失,为了减少光学器件表面的反射损失,常在器件表面镀上一层透明介质薄膜(称为增透膜),增透膜的效果与介质薄膜的折射率、厚度等相联系.本文以光波的电磁理论为基础,讨论了光波入射介质薄膜的反射,推导出了反射率公式,并进行了讨论.结果表明:当介质薄膜的厚度d=λ0/4n2(2k+1)时,反射率有最小值Rmin=(n1n3-n2 2/n1n3+n2 2)(k=0,1,2,…,n1,n2,n3分别为空气、介质薄膜、光学透镜的折射率,λ0为光波在真空中的波长),而当介质薄膜的折射率n2=√n1n3时,反射率R=0,基本上无反射.

本文主要研究反射率测定仪的校准方法,并对校准结果进行了不确定度的分析评定,最后结果表明,本校准方法合理,实验数据准确可靠.

阐述了反射率测量中的几种典型方法,并根据测量原理将它们分成了两大类.一类是根据检测光束在待测样品上的反射次数的(单)多次反射法;另一类是基于谐振腔特性的测量方法.以相对误差或测量精度作为设计的评价标准,论述和分析了各种技术的测量原理及其优缺点,介绍了国内外反射率测量技术的发展现状及其目前的技术水平.对测量技术的发展方向进行了剖析,提出一些影响测量精度的问题.

地面模拟研究了低能质子和电子对铝膜反射镜光学性能的影响。结果表明，低能质子辐照后，在200～800nm波长范围内铝膜反射镜反射率随辐照剂量增加而下降。质子辐照能量越低射程越短，则反射镜表面膜层中质子浓度越大损伤也更为明显。电子辐照射程较深，辐照作用对铝膜反射镜光学性能影响很小。

建立了一种反射式近场光学显微镜中样品近场光分布特性的模型,应用矢量衍射理论,得到了系统的场方程.在弱波动条件下,采用微扰法对场方程进行了求解,能方便地得到样品表面的各阶近场光反射和透射模复振幅表达式.计算结果表明,一级场分布要比零级场小一个量级,各阶近场信号的强弱完全由面形函数的傅里叶变换决定.通过与零级结果的比较,证明了计算结果的正确性.提供了一种计算样品表面近场分布简便方法,对反射式近场光学显微镜中调制检测技术具有指导意义.

为实现在高功率激光装置中对平面反射镜反射率的高精度测量，提出了将双光束分光光度法与VW测量法相结合，利用扩束后的测量光束测量被测元件的反射率。推导了计算公式，搭建了测量光束口径为50mm的检测系统，通过对标准吸收玻璃吸收值的测试验证了系统对光束能量测试的准确性。利用该系统对高功率激光装置使用的反射镜的反射率进行了测量，并将其测量结果与用lambda900分光光度计测量的结果进行了比对。结果表明：该方法的测量精度优于0．1％。