非同步采样法的光栅纳米测量
光栅计量技术向纳米测量发展需要更高的光栅细分倍数。基于所研制的快速互补函数细分算法,细分精度即仅取决于测量启停时刻的光栅信号采样精度,选用市场上货源丰富的、低成本的扫描式多通道模数转换卡,即可实现光栅纳米测量所需的高倍数细分。在测量的启停时刻对光栅信号进行精确测量,在测量过程中对光栅信号进行快速跟踪测量。实验表明,当采用15位200 kHz的A/D转换卡对20μm栅距的光栅信号进行非同步采样时,可以得到小于1 nm的测量分辨率及大于120 mm/s的测量速度。
Q-type非球面技术在超短焦全景镜头设计中的应用
介绍了Q-type新型非球面多项式算法及其相比于传统非球面多项式在加工、制造方面的优势.引入超短焦全景镜头焦距与分辨率的关系,利用Q-type非球面技术,设计了一款焦距0.657mm,焦距像高比≤0.184的全景镜头.该镜头由7组8片透镜组成,包含4面非球面透镜.设计结果表明在空间频率为227 lp/mm处,调制传递函数值大于0.3,接近衍射极限;在垂直半视场角45°~90°的环景边缘区域,图像角分辨率达到了1.163 7 mm/(°),使得环景展开后有较高分辨率,表明Q-type非球面技术在超短焦全景镜头设计中有一定优越性.
光学系统的像质评价和像差公差
评价像质的方法主要有瑞利(Reyleigh)判断法、中心点亮度法、分辨率法、点列图法和光学传递函数(OTF)法等5种。瑞利判断便于实际应用,但它有不够严密之处,只适用于小像差光学系统;中心点亮度法概念明确,但计算复杂,它也只适用于小像差光学系统;分辨率法十分便于使用,但由于受到照明条件、观察者等各种因素的影响,结果不够客观,而且它只适用于大像差系统;点列图法需要进行大量的光线光路计算;光学传递函数法是最客观、最全面的像质评价方法,既反映了衍射对系统的影响也反映了像差对系统的影响,既适用于大像差光学系统的评价也适用于小像差光学系统的评价。
光学多通道分析仪的分辨率分析
介绍了光学多通道分析仪(Optic Multichannel Analyzer, OMA)的基本组成和工作原理, 着重分析了OMA系统中光谱仪的狭缝宽度、光栅参数和CCD的像素尺度对OMA系统分辨率的影响。 得到的结论是:OMA系统的分辨率是由系统中分辨率最低的环节决定的,无限制地减小 狭缝宽度无助于系统分辨率的提高。
CCD相关跟踪器在恒星光干涉仪中的应用
CCD相关跟踪器被应用在恒星光干涉仪中,实现了干涉仪两相干光束平行性的高精度探测与控制,该文描述其数学基础,基本结构,组成,相关处理方法及其应用成果。
应用锯齿形定向光栅的数字位移测量系统
本文介绍了已经用于激光球面干涉仪中的用锯齿形衍射定向光栅作检测元件的高精度数字位移测量系统,系统用电子运算器修正光栅常数的办法获得了0.1μm的分辨率和在20mm量限内优于0.2μm的精度,这一系统的主要优点是精度高,结构简单,调正方便,缺点是对机械导轨精度要求较高,因此适用于精度高,但量程不太大(例如≤100mm)的位移测量系统.
高分辨时域反射测量(TDR)系统
时域反射测量是一种技术先进、用途广泛的测量方法,被称为“光雷达”。本文从理论上分析光时域反射测量法的灵敏度和空间分辨率二者之间的关系,并提出实现极高空间分辨率(〈0.1mm)的方法和计算原理。
高分辨率定量电子显微学
本文将在综述高分辨率定量电子显微学及相关技术发展现状的基础上,讨论材料结构和缺陷的原子尺度直接观察与计算机模拟对比研究的意义及影响高分辨率定量电子显微学测量结果的几种因素的研究现状。
能谱分析系统探头分辨率下降原因的分析与探讨
探头是能谱分析系统的关键部件。探头性能好坏决定着能谱分析系统的分辨率和探测效率的高低。目前世界上探测器制造技术发展很快,最新推出能谱分析系统探头中所采用的晶体在材料、工艺和探头的工作原理、制造技术等方面以及探头中的电子线路比八十年代都有了很大的进步,并且优化了元器件,增加了一些诸如温度补偿等电子线路,使探头的性能日趋完善;甚至有的探头可以工作时加液氮,不工作时不加液氮;还出现了完全利用电子元器件制冷并恒温而不用加液氮的探头。其目的是力图完全抑制晶体内部产生反扩散、提高探头的分辨率和探测效率、克服温度和其它各种内外因素对探头的影响、增加探头的可靠性和稳定性、延长探头的使用寿命、用户使用和维护探头方便。但是,我国七十年代末至八十年代中期进口的能谱分析系统现在已经使...
几种新型显微镜的应用
显微技术是一门对物质微小区域进行化学成分分析、显微形貌观察、微观结构测定的显微分析技术,广泛应用于各科学领域。近年来出现的近场光学显微镜,是对普通光学显微镜的一种改进,而原子力显微镜、声学显微镜,则是人们不断开发其他显微技术的成果。这些新型显微镜在生物医学领域中都有着非常广泛的应用和迅猛的发展。











