作为应用于第三代同步辐射光源的一种重要X射线元件，复合折射透镜成为近年来X射线光学研究的热点之一。平面抛物形折射透镜是复合折射透镜的重要一种。研究过程中，考虑到X射线衍射仪的特定检测环境及随后加工上的技术要求，优化设计了透镜各个参数，用ZEMAX软件对透镜进行光线追迹，模拟验证了设计结果。单组透镜的几何孔径为250μm，焦距为30cm。共设计30组透镜，透镜个数从1个变化到30个，相应的抛物形顶点处的曲率半径从1．23μm变化到37μm。在光子能量为8．05keV条件下，透镜的理论透过率从43．3％变化到33．2％。焦斑直径均在微米量级。采用紫外光刻微加工技术，制作了SU-8光刻胶平面抛物形折射透镜。透镜厚度为224μm。透镜光学性能的测试正在进行中。

采用胶片剂量计测量了低能x射线辐射装置距x射线光管焦斑不同距离辐射野的大小，得出在距离光管焦斑1000mm的参考面辐射野大小及均匀性，并与二维矩阵电离室扫描结果进行了对比。实验结果表明，在距x射线光源焦斑1000mm处，在保证直径为100mm的均匀野的条件下，非均匀性不大于1．5％。在保证非均匀性不大于5％和50％条件下，均匀野大小分别为130mm和145mm，满足了低能x射线空气比释动能基准装置量值复现，国际比对和向下量值传递的要求。

文章介绍了包钢镀锌生产线锌层测厚仪测厚的原理、系统的组成、各部分作用、控制过程、数据通信以及现场应用过程中出现的问题和处理的方法。

利用X射线荧光光谱分析仪可以快速、准确地测定聚乙烯树脂中Al，Ti元素的含量，而且精密度好，非常适合于产品生产中间控制分析。同时在对定期校准仪器的飘移、采用PH模式对校准曲线进行线性回归校准方面做了一定的说明。

提出一种模拟X射线衍射线的方法，即在构造Voigt函数的基础上叠加服从泊松分布的随机数，并对模拟结果进行统计检验，以考察它是否符合泊松分布，同时考察是否可把模拟衍射线与实测衍射线看作来自同一个总体。结果表明，可用模拟衍射线代替实测衍射线。并用实例说明如何应用模拟衍射线来解决实际问题。

对X射线测厚的原理进行了深入的分析研究与探讨，并且详细介绍了在冷轧轧机中如何利用测厚仪进行有效的高精度测量以及测厚仪在自动厚度控制中所起的关键性作用。

一.概述 1936年安德森因发现正电子而获得诺贝尔奖后,随着X射线断层成像（X-C T）和单光子断层成像（S P E C T或简称E C T）技术的成熟,人们将断层技术应用于该领域,产生了一门新兴的核医学学科：正电子发射断层成像（Positron EmissionTomography）。

以EMX-SM型电子探针传动机构、分光晶体和谱仪板的调节部件为基础,建立晶体直进波长正比谱仪的失调模型,经过解析,获得反映谱仪状态的直线束方程,推导出聚焦圆正偏离和负偏离判据,得到波谱仪调整方向和具体步骤,结合实例详解谱仪实际调整过程。

在快速相变仪上模拟实际热处理过程中热膨胀曲线,分析不同热处理后05Cr17Ni4Cu4Nb钢金相组织及力学性能,采用X射线法测量不同热处理下逆变奥氏体含量,可以得出：中间时效能提高马氏体转变开始点,降低Rm、RP0.2、RP0.02强度值,对断面收缩率、延伸率影响不大,在最终时效工艺相同情况下,中间时效对最终逆变奥氏体含量影响不大。