本文介绍一种平场全息凹面光栅多色仪,给出了光栅设计、其实验结果与理论计算一致。

光栅应用技术的新进展北京云志电气公司管钧以光栅作为传感元件，将线位移或角位移转换为相应变化的电子分度表征是光栅应用技术的主要特点。随着光栅制造工艺水平的提高，特别是近年来光栅信号的数显处理技术的飞速发展，使得光栅测量技术在量程、精度、系统稳定性、性能...

部分凹透镜的凹面由于设计和工艺的要求,需要磨出一个垂直于光轴的平面,往往该平面与通光口径重合,一般精度要求不严,所以传统的磨边机没有在线检测通光口径的功能。而对于通光口径要求严格的镜片,在线检测非常必要。为解决这一实际问题研发了专用检测仪器。先对凹透镜通光口径上边缘成像,再微调手轮,使得分化板刻度线对准上边缘,把此点定为零点,然后调动手轮,移动工作台,使得分化板与通光口径下边缘对齐,其经过的距离就是凹透镜的通光口径。这个距离通过固定在移动工作台上的光栅进行测量,从而实现了光栅精密测量和光学成像的巧妙结合,创新性的实现了小视场对大距离的测量。

介绍了光栅光谱仪的工作原理、光学系统参数的选择方法，并根据激光光谱特性及实际测试要求设计了简单实用的高速中红外光栅光谱仪。该光谱仪具有高帧频、高分辨率、可扩展性强等一系列优点。

从理论上分析了较高空间频率的柱面透射光栅的衍射特性，在不作近似的条件下，用计算机模拟出了不同曲率半径的柱面透镜组成的柱面透镜组成的柱面透镜光栅的夫琅和费衍射特性，得出了共衍射光强的分布规律。光学实验给出了由光学塑料制成的空间频率为１０ｌｐ／ｍｍ的柱面透射光栅的衍射光强分布。计算机模拟结果与光学实验结果吻合。

介绍了一种基于CCD和FPGA的光栅位移测量技术,建立了光栅位移测量系统。系统由线阵CCD采集光栅莫尔条纹,将检测到的莫尔条纹通过A/D转换器输入FPGA处理器,FPGA处理器对采集到的莫尔条纹信号进行处理,利用FFT变换求取信号相位的变化,再根据相位的变化求出位移值。文中详细介绍了工作原理的推导过程、CCD驱动控制、信号预处理以及FFT变换在FPGA中的设计实现。实验验证该系统抗干扰能力强,对光栅信号质量要求不高,能到达较高的细分数,并且系统集成度高,开发成本低,运行稳定。

详细研究了光栅纳米测量系统的误差特性,以及利用激光干涉仪对高精度光栅测量系统的系统误差进行检测、并在信号处理中予以补偿和修正的方法.实验表明,通过这种系统误差修正方法对周期累计误差和细分误差同时进行修正,能够大幅度地将计量光栅系统的测量准确度从微米或亚微米量级提高到纳米级水平,以实现光栅纳米测量.

基于光栅动态测量方法,建立一套齿轮传动误差测试和数据处理装置和系统,实现齿轮传动误差的精确测试。根据成型法加工原理,建立含齿轮装配误差、制造误差和修形的精确有限元分析模型,并仿真试验的过程,比较仿真结果与试验数据,验证仿真模型的正确性。